Leica EM RES 102 - Автоматическая управляемая компьютером система ионного травления, чистки и модификации поверхности неорганических материалов с изменяемой ориентацией направления ионных пучков предназначена для приготовления неорганических образцов для ПЭМ и СЭМ и световой микроскопии.



Подробнее

Leica EM TIC3x - Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину. Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения микроструктурного анализа (EDS, WDS, Auger и EBSD). Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп.



Подробнее

Leica EM TXP - Система прецизионной механической резки, шлифовки и полировки образца с непрерывным контролем под микроскопом для подготовки твердых образцов в ПЭМ, СЭМ и световой микроскопии.
•Скорость  вращения фрезы – 300 – 20000  оборотов /мин
•Регулировка угла наклона держателя образцов  -  0° - 60° (по отношению к оси вращения фрезы)


Подробнее