- ІНноваційні ТЕхнології та РОзробки

(044) 483-93-08
(044) 483-91-23

office@intero.ua

Leica EM BAF060

Leica EM BAF060
Leica EM BAF060 – Система для крио-травления/крио-разлома. Самая современная система подготовки образца по технологии охлажденное травление/разлом имеет активную систему подачи хладагента для постоянной подготовки образца без температурных флуктуаций.
•Методы: крио-травление/разлом, двойной реплики (зеркальный разлом), крио-сушка, покрытие углерод/металл для анализа ПЭМ и СЭМ, двуслойное покрытие образцов для крио-СЭМ анализа.
•Возможность подключения крио-системы переноса Leica VCT 100 для крио-СЭМ анализа.


Подробнее

Leica EM CPD300

Leica EM CPD300
Leica EM CPD300 - автоматический прибор для контролируемой сушки образцов в критической точке.  Настольный прибор, предназначенный для полностью автоматической мягкой сушки биологических объектов, таких как пыльца, ткань, растения, насекомые и т.д., а также промышленных образцов для MEMS (Микро-электро-механические системы).


Подробнее

Leica EM ACE200

Leica EM ACE200
Leica EM ACE200 - Прибор для напыления пленок в вакууме. Компактный настольный прибор для напыления качественных проводящих пленок с использованием драгоценных металлов: золота, золота/палладия, серебра и платины, а также недрагоценных металлов меди и никеля.
Прибор может также проводить испарение углеродной нити для создания проводящих углеродных пленок для X-rayмикроанализа (EDX, WDX) и усиленных углеродных пленок на сетках, покрытых коллодием или формваром для TEM.

Подробнее

Leica EM VCT100

Leica EM VCT100
Leica EM VCT100 - Крио-вакуумная система переноса образца от прибора для пробоподготовки в инструмент анализа образца, которым может быть как просвечивающий так и сканирующий электронный микроскоп. Образцы перемещаются в строго определенных условиях (защитный газ или вакуум) из прибора для подготовки образцов в прибор анализа. В дополнении, образец может находиться также при низких температурах для крио-техник. Система может быть установлена на любые вакуумные камеры SEM, FIB, SIMS, AFM или XPS.  
Leica EM VCT100 может быть установлена на приборы для подготовки образцов EM ACE600 и EM BAF060 для последующего анализа в SEM, FIB, AFM или XPS, гарантируя вакуумную транспортировку образца без загрязнений от начала до конца всего процесса.


Подробнее

Leica ACE 600

Leica ACE 600

Устройство для нанесения покрытий в высоком вакууме LeicaACE 600

Ваш выбор для подготовки образцов в ПЭМ и СЭМ высокого разрешения.


Подробнее


Новости компании

Оборудование Leica в наличии на складе в Киеве
9-12-2015, 13:45

На складе в Киеве есть в наличии следующее оборудование Leica:
Станция "Side by Side" для ассистента к микроскопам серии Leica DM 1000 и выше


Системы и решения для криминалистики
10-10-2015, 13:04

Представляем Вашему вниманию производителя оборудования, расходных материалов, систем и решений для осмотра места преступления и исследования собранных улик - компанию "Scenesafe", Великобритания.

LABComplEX 2015
7-10-2015, 11:00

Приглашаем посетить неш стенд на главном событии лабораторной индустрии - VIII международной выставке LABComplEX, которая пройдет 20-22 октября 2015г. в выставочном центре "КиевЭкспоПлаза", ул. Салютная 2-Б, павильон №3