- ІНноваційні ТЕхнології та РОзробки

(044) 483-93-08
(044) 483-91-23

office@intero.ua

Leica EM TIC3X

Leica EM TIC3X
Leica EM TIC3x - Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину. Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения микроструктурного анализа (EDS, WDS, Auger и EBSD). Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп.
•Встроенный стереомикроскоп позволяет полностью контролировать процесс травления.
•Три ионных пушки, позволяющие проводить одновременное травление с трех направлений, обеспечивают высокое качество поверхности и хорошую повторяемость результатов.
•Сенсорная панель управления снимает необходимость специального обучения пользователя работе на приборе, все интуитивно и просто.
•Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску до -150° C.
Вернуться


Новости компании

Оборудование Leica в наличии на складе в Киеве
9-12-2015, 13:45

На складе в Киеве есть в наличии следующее оборудование Leica:
Станция "Side by Side" для ассистента к микроскопам серии Leica DM 1000 и выше


Системы и решения для криминалистики
10-10-2015, 13:04

Представляем Вашему вниманию производителя оборудования, расходных материалов, систем и решений для осмотра места преступления и исследования собранных улик - компанию "Scenesafe", Великобритания.

LABComplEX 2015
7-10-2015, 11:00

Приглашаем посетить неш стенд на главном событии лабораторной индустрии - VIII международной выставке LABComplEX, которая пройдет 20-22 октября 2015г. в выставочном центре "КиевЭкспоПлаза", ул. Салютная 2-Б, павильон №3