Leica EM RES 102 - Автоматическая управляемая компьютером система ионного травления, чистки и модификации поверхности неорганических материалов с изменяемой ориентацией направления ионных пучков предназначена для приготовления неорганических образцов для ПЭМ и СЭМ и световой микроскопии.
•Две ионные пушки с энергией (1 – 10 keV)  и углом наклона +/- 45 град.
•Подготовка образцов до 25 мм диаметром.
•Низкоэнергетическая чистка образцов FIB.
•Позволяет изменять ориентацию ионных пучков с углом от 0 до 90° и их энергию.
•Образец отображается в течении всего времени процесса посредством встроенной CCD камеры.
•Опциональная LN2 система охлаждения позволяет осуществлять подготовку образцов без артефактов.
Вернуться